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    SemiChem在線濃度監測儀

    簡要描述:· CMP Slurry中過氧化物(雙氧水)的濃度分析
    · 濕法清洗工藝中DSP+HF、H2SO4的濃度分析
    · 裝機超1.5k臺,大廠占有率迅速攀升,信賴之選
    · 精準掌控CMP Slurry中<<1%H2O2和濕法清洗DSP+中HF含量

    • 更新時間:2025-09-04
    • 廠商性質:生產廠家
    • 產品型號:
    • 訪  問  量:1153
    詳情介紹

    Why ?

    為什么用APM?

    · 一站式備齊CMP解決方案,提升晶圓良率

    · 精準掌控晶圓制備及清洗的關鍵過程H2O2、H2SO4、HF等濃度水平

    · 遠超離線設備的在線濃度計

    · 高可靠性,離群幾率低至十萬分之一/年

    · 專為OEM廠家設計

    How?

    如何提高良品率?

    · 精準控制過氧化物濃度

    · 過氧化物過高,metal lift and dishing

    · 過氧化物含量過低,金屬去除率不足,拋光效果不佳

    · 氧化物的監測和控制可以保持工藝化學成分和完整性

    What we can do?

    我們能做什么?

    · 優化工藝參數:通過精確測量雙氧水濃度(低于1%),提高生產效率和產品質量

    · 降低生產成本:減少因濃度過高或過低導致的原材料浪費和不良品率,降低生產成本

    · 提升產品質量:穩定的雙氧水濃度有助于實現均勻的金屬處理和拋光效果,提升產品表面質量和光澤度

    Who should use?

    誰應該使用?

    · 研磨液(Slurry)的生產商,CMP SDS系統集成供應商,芯片IDM生產企業或晶圓代工廠

    Where to use?

    在哪里使用?

    · POU 端監控Fab漿料稀釋過程

    · 電化學&濃度雙法監控

    · Slurry(研磨液)拋光過程中過氧化物濃度監控


     產品介紹 | INTRODUCTION



    SemiChem Advanced Process Monito(r APM)是一款集自動取樣、分析和報告關鍵過程的定量化學濃度于一體的化學監測系統。通過全面的在線化學監測,該系統可實時校正漿料成分,從而穩定控制工藝生產條件。APM系統可提供分類化學濃度數據,數據即時顯現,助力操作人員快速糾正可能對產品質量產生負面影響的變化,有助于滿足更高的產品產量要求。



                                  

    SemiChem在線濃度監測儀


    經驗證的標準電化學技術

    實時監測濃度監控系統


    對于濃度低于1%的H2O2具有高靈敏度



           應用領域 | Application

    l半導體領域CMP slurrry中過氧化物(雙氧水)的在線濃度檢測

    lCMP slurrry過氧化物(雙氧水H2O2)的濃度分析

    lDSP+(dilute sulfuric peroxide HF mixture)的濃度檢測


    在全球范圍內,已安裝了近3000套SemiChem  APM系統,在微電子環境中的所有濕化學應用中證明了其性能。應用包括但不限于:

    l銅、鎢、阻擋層和金屬CMP

    lPAN蝕刻、Piranha蝕刻

    l特制清洗劑

    lHF氫氟酸

    lDSP+

    l廢水



    儀器原理 | PRINCIPLE



    SemiChem在線濃度監測儀

    工作原理


    滴定法:(氧化還原,酸堿中和)


    氧化還原滴定法原理:

    基于氧化還原反應的定量關系。滴定劑(通常為氧化劑或還原劑)與待測物質發生氧化還原反應,通過滴定劑的消耗量反推物質的濃度。

    酸堿滴定法原理:

    利用酸和堿在水中以質子轉移反應為基礎的滴定分析方法。其基本反應為H++OH-=H2O,也稱為中和法。

    特點:


    · 典型分析方法

    SemiChem在線濃度監測儀 

    · 通過滴定劑達到endpoint時消耗的標準物質量,快速準確地分析溶液中分析物的濃度

    · 精準

    · 容錯率高

    · 可以測量多種溶液

    滴定曲線圖



    ISE(離子吸附)


    原理:

    使用特定分析物和選擇性靈敏膜作為指示電極測量選擇性耦合電位差。

     


    特點:


    · 僅對指定離子選擇性響應

    SemiChem在線濃度監測儀

    · 由與特定離子反應并結合的薄膜組成

    · 沒氧化還原反應

    · 電導率(離子可轉移)

    離子吸附原理圖




      儀器參數 | SPECIFICATION


    性能規格

    分析方法

    電位滴定法/標準添加法/光度測定法

    電位測量的準確性1

    顯示值的±0.2%

    標準添加劑的準確性1

    顯示值的±2.0%

    電位測量精度1

    ±0.2%對誤差

    標準添加精度1

    ±2.0%對誤差

    測量時間

    5分鐘/次(取決于方法設定)

    校準間隔

    啟動時2

    樣品消耗

    <5mL/次

    進樣量

    0.05至5mL(取決于方法設定)

    樣品溫度

    最高93℃(200°F)

    耗水量

    <1000 mL/次

    系統設施要求3

    樣品進樣/排樣

    <207kPa(30 psi),0.5升/分鐘

    外徑1/4擴口接頭,1"FPT安全殼聯軸器

    去離子水

    138-276kPa (20-40 psi)

    2.0升/分鐘

    外徑1/4"擴口接頭

    CDA

    414-552kPa (60-80psi)

    外徑1/4"快速接頭

    排水

    處理管:3/4"NPT重力排水管

    儲水管:1/2"NPT重力

    電源

    110/220 VAC,50/60Hz,1.0/0.5A現場可切換

    排氣

    1-7/8" OD@17立方英尺/分


    注:

    1 僅指“硬件"。應用、化學和工藝條件等外部因素會影響系統的準確性和精密度

    2 這不包括pH或離子選擇性傳感器的校準。有關更多信息,請參閱《安裝和操作手冊》

    3 有關所需設施的完整清單,請參閱SemiChem APM安裝和操作手冊



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