納米粒徑與電位分析儀工業(yè)化模塊化設(shè)計(jì)可擴(kuò)展ZETA電位

Nicomp 380系列納米粒徑與電位分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，主要用于檢測(cè)納米級(jí)別的體系和其他膠體體系，其粒徑檢測(cè)范圍0.3 nm-10μm。

Nicomp 380系列儀器均采用的工業(yè)化模塊化設(shè)計(jì)，可靈活方便地?cái)U(kuò)展ZETA電位和其他功能，如：的自動(dòng)稀釋系統(tǒng)、自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)、在線進(jìn)樣系統(tǒng)、多角度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和各種激光器/檢測(cè)器。

 

NICOMP 380 Z3000 納米粒徑與電位分析儀特點(diǎn)

1、同機(jī)測(cè)試懸浮液體的粒徑分布以及ZETA電勢(shì)電位

2、Zeta電位運(yùn)用了多普勒電泳遷移原理以及的相位分析散射法可以測(cè)試水相和有機(jī)相的樣品

3、檢測(cè)范圍寬廣，亞微米顆粒均可以被檢測(cè)

4、樣品測(cè)試量小

5、高辨析率

6、結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差小于1%

7、100 % 樣品可回收利用

8、可搭載自動(dòng)滴定儀, 自動(dòng)稀釋器和自動(dòng)進(jìn)樣器

9、無(wú)須校準(zhǔn)

10、一次性進(jìn)樣，避免交叉污染樣品

11、可選配大功率激光發(fā)生器以及*級(jí)APD雪崩二極管檢測(cè)器來(lái)檢測(cè)粒徑小于1nm的顆粒